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Berührungslose Defektanalytik von Halbleitermaterialien

Modellierung und quantitative Analyse der Mikrowellendetektierten Photoleitfähigkeit
沿って Torsten Hahn - により販売されています Dodax EU
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Torsten Hahn Berührungslose Defektanalytik von Halbleitermaterialien
Torsten Hahn - Berührungslose Defektanalytik von Halbleitermaterialien

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著者 Torsten Hahn

商品詳細

DUIN 1VIMLBBTMEJ

GTIN 9783838124407

ページ数 152

Product type 文庫本

寸法 220 x 150 x 8  mm

製品重量 218 g

¥7,640
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